（1）餅干是什(shen)么樣的餅(bing)干？有沒有(you)脆性？

對于一(yi)些很厚又較(jiao)軟的(de)餅干，有硬度(du)，但是相對(dui)來說(shuo)脆性很小(xiao)或者沒有脆(cui)性。而(er)很薄又脆的(de)酥性餅(bing)干，相對而言(yan)才有硬度和脆(cui)性的說(shuo)法。

（2）測餅干的(de)硬度(du)和脆性應(yīng)該(gai)選用(yong)哪些(xie)配件(jian)？

通常應(yīng)該選用(yong)2mm的柱形探頭和(he)帶孔的平(ping)臺，柱形探(tan)頭穿刺完樣(yang)品之后從(cong)平臺的孔(kong)中穿出，保證(zheng)樣品穿刺*而(er)不會對(dui)探頭有(you)損壞(huai)。

（3）測試條件如(ru)何選(xuan)擇？ ? ?

測試(shi)前速度不宜(yi)太快，太(tai)快容易(yi)造成延遲啟動(dong)分析，通常(chang)不超(chao)過3mm/s為宜；測(ce)試速度以受力(li)均勻、樣(yang)品與探頭(tou)充分受力為(wei)宜，通常測試(shi)速度較小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測(ce)試后速度(du)主要和粘(zhan)性有關(guān)(guan)，如果不考慮樣(yang)品粘性或(huo)者樣品沒有粘(zhan)性，測(ce)試后(hou)速度可以調(diào)(diao)快一點。目(mu)標(biāo)模式也就是(shi)探頭壓到(dao)什么時候停止(zhi)呢，建議(yi)采用距離(li)模式(shi)，探頭測試(shi)移動距(ju)離大于樣(yang)品的高度，從(cong)而保證*穿(chuan)刺樣(yang)品。

（4）餅干的硬度(du)和脆性(xing)如何定義(yi)呢？

這個是典(dian)型的(de)餅干(gan)曲線，波(bo)動可(ke)能是(shi)由餅干的(de)破裂或是餅(bing)干內(nèi)(nei)部有大的內(nèi)含(han)物而造成。因(yin)此，一般將(jiang)曲線內(nèi)的(de)zui高峰定義為餅(bing)干的硬(ying)度，線性(xing)距離定義(yi)為餅干的酥(su)脆性，線性(xing)距離越短，餅干(gan)的酥脆(cui)性越好(hao)。