（1）餅干是什么樣(yang)的餅(bing)干？有沒有脆性(xing)？

對(duì)于一些(xie)很厚又較軟(ruan)的餅干，有硬(ying)度，但是相對(duì)(dui)來說(shuo)脆性很小或(huo)者沒有脆性(xing)。而很薄又脆(cui)的酥性(xing)餅干，相對(duì)(dui)而言才有硬(ying)度和脆性(xing)的說法。

（2）測(cè)餅干的(de)硬度和(he)脆性應(yīng)該選(xuan)用哪些(xie)配件？

通常應(yīng)該選用(yong)2mm的柱形探(tan)頭和帶孔的(de)平臺(tái)，柱形探頭(tou)穿刺完樣品(pin)之后從平臺(tái)的(de)孔中穿出(chu)，保證(zheng)樣品穿刺(ci)*而不會(huì)對(duì)探(tan)頭有損壞。

（3）測(cè)試條(tiao)件如何選(xuan)擇？ ? ?

測(cè)試前(qian)速度不宜太快(kuai)，太快容易造成(cheng)延遲啟動(dòng)(dong)分析(xi)，通常不(bu)超過3mm/s為宜；測(cè)(ce)試速度以(yi)受力均勻、樣(yang)品與探頭充(chong)分受(shou)力為宜(yi)，通常測(cè)試速(su)度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適；測(cè)試后(hou)速度主要和(he)粘性有(you)關(guān)，如果(guo)不考(kao)慮樣品粘性(xing)或者樣品(pin)沒有粘性，測(cè)(ce)試后速度可(ke)以調(diào)快一點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模式也就是(shi)探頭壓到(dao)什么時(shí)候停(ting)止呢，建議采用(yong)距離(li)模式，探頭測(cè)試(shi)移動(dòng)距離大于(yu)樣品的高(gao)度，從(cong)而保(bao)證*穿刺樣品。

（4）餅干(gan)的硬度和脆(cui)性如何(he)定義呢？

這個(gè)是典(dian)型的(de)餅干曲線，波(bo)動(dòng)可能(neng)是由餅干(gan)的破裂或是(shi)餅干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)(nei)含物而(er)造成。因此(ci)，一般(ban)將曲(qu)線內(nèi)的(de)zui高峰定義(yi)為餅干(gan)的硬度，線性(xing)距離(li)定義(yi)為餅(bing)干的酥(su)脆性，線性距離(li)越短，餅干的酥(su)脆性(xing)越好。