（1）餅干是什么(me)樣的餅干？有沒(mei)有脆性？

對(duì)于一(yi)些很厚又較(jiao)軟的餅干，有硬(ying)度，但(dan)是相對(duì)來說脆(cui)性很小或者(zhe)沒有脆性。而很(hen)薄又脆的酥(su)性餅干，相對(duì)而(er)言才有硬度和(he)脆性的說(shuo)法。

（2）測(cè)餅干的硬(ying)度和脆性應(yīng)(ying)該選用哪些(xie)配件？

通常應(yīng)(ying)該選用2mm的柱形(xing)探頭和帶孔的(de)平臺(tái)，柱形探(tan)頭穿刺完樣品(pin)之后從(cong)平臺(tái)的孔(kong)中穿(chuan)出，保證樣(yang)品穿刺(ci)*而不會(huì)對(duì)(dui)探頭有損(sun)壞。

（3）測(cè)試條件如(ru)何選擇(ze)？ ? ?

測(cè)試(shi)前速度不宜太(tai)快，太快(kuai)容易造成延(yan)遲啟動(dòng)分(fen)析，通(tong)常不超過3mm/s為宜(yi)；測(cè)試(shi)速度以受(shou)力均勻、樣品與(yu)探頭(tou)充分受(shou)力為宜，通常測(cè)(ce)試速(su)度較小，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適(shi)；測(cè)試后(hou)速度主(zhu)要和粘(zhan)性有(you)關(guān)，如果不(bu)考慮樣品(pin)粘性或者樣品(pin)沒有粘性(xing)，測(cè)試后速度可(ke)以調(diào)快一點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模(mo)式也就是探(tan)頭壓(ya)到什么時(shí)(shi)候停止呢，建(jian)議采用距(ju)離模式(shi)，探頭測(cè)(ce)試移動(dòng)距離(li)大于樣(yang)品的高度，從(cong)而保證*穿刺樣(yang)品。

（4）餅干的硬度(du)和脆(cui)性如何(he)定義呢？

這個(gè)是典型(xing)的餅(bing)干曲(qu)線，波動(dòng)可(ke)能是由餅干的(de)破裂(lie)或是餅干(gan)內(nèi)部有大(da)的內(nèi)含物(wu)而造(zao)成。因此，一般(ban)將曲(qu)線內(nèi)的zui高峰(feng)定義為餅干(gan)的硬度(du)，線性距離定(ding)義為餅干(gan)的酥脆性，線(xian)性距離越短，餅(bing)干的酥(su)脆性越好。