技術(shù)文章
Technical articles蛋在腌制(zhi)過(guò)程中(zhong),蛋殼(ke)的品質(zhì)是影(ying)響蛋(dan)成品品質(zhì)的重(zhong)要因素,對(duì)不同(tong)品質(zhì)的蛋殼,吸(xi)收和(he)滲透(tou)傳遞食鹽(yan)等的能力不同(tong),直接影響(xiang)咸蛋等(deng)的加工時(shí)間。如(ru)薄殼(ke)蛋對(duì)食鹽(yan)滲透能力強(qiáng),成(cheng)熟期(qi)短;反之,厚(hou)蛋殼對(duì)食鹽(yan)的滲(shen)透能力差,成熟(shu)期長(zhǎng)(zhang)。蛋殼的孔隙數(shù)(shu)目越多(duo),尺寸越大,對(duì)食(shi)鹽的滲透(tou)能力(li)越強(qiáng),蛋(dan)品的腌制時(shí)間(jian)也越短;反之(zhi),蛋殼(ke)孔隙數(shù)目越(yue)少,尺寸越小(xiao)的蛋品腌制時(shí)(shi)間越(yue)長(zhǎng)。有研(yan)究表明,蛋殼的(de)力學(xué)特性(xing),如蛋殼的(de)強(qiáng)度、硬(ying)度等于蛋殼的(de)超微(wei)孔隙(xi)結(jié)構(gòu)有(you)直接關(guān)系,強(qiáng)(qiang)度高的(de)蛋殼結(jié)構(gòu)緊(jin)密,孔(kong)隙尺(chi)寸較(jiao)??;強(qiáng)(qiang)度低的(de)蛋殼結(jié)構(gòu)稀疏(shu),孔隙尺寸較大(da)。因此,蛋(dan)殼的品質(zhì)(zhi)、滲透(tou)特性與蛋殼(ke)微觀(guan)結(jié)構(gòu)(gou)三者之(zhi)間有著十(shi)分緊密的(de)關(guān)系,對(duì)(dui)蛋殼力學(xué)(xue)特性的研(yan)究部件能為(wei)禽蛋等運(yùn)(yun)輸?shù)?deng)提供理論(lun)依據(jù)(ju),還能(neng)對(duì)將來(lái)(lai)深入蛋殼的微(wei)觀結(jié)構(gòu)奠定(ding)基礎(chǔ)(chu)。
1 蛋樣品準(zhǔn)備
購(gòu)買鴨(ya)蛋樣(yang)品若干,蛋(dan)重約(yue)60-80g。
2 儀器測(cè)定
(1)穿刺測(cè)(ce)試
儀器(qi):Universal TA物性分(fen)析儀(質(zhì)(zhi)構(gòu)儀)
探頭:P/2柱(zhu)形探(tan)頭
配件:蛋托
? ?
? ? ?將處理好的(de)鴨蛋樣品(pin)放于(yu)蛋托裝置(zhi)上,然后(hou)一起(qi)放于柱形探(tan)頭的正下方進(jìn)(jin)行測(cè)定,測(cè)(ce)定條件(jian):
測(cè)試模式:穿刺(ci)
測(cè)試前速度:0.2mm/s
測(cè)試速度(du):0.2mm/s
測(cè)試(shi)后速度(du):0.2mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模式:距(ju)離 3mm
(2)壓縮測(cè)試
儀器(qi):Universal TA物性(xing)分析儀(yi)(質(zhì)構(gòu)儀(yi))
探頭:P/75壓(ya)盤探(tan)頭
?
? ? ?將處理好(hao)的鴨蛋樣品放(fang)于蛋托(tuo)裝置上,然(ran)后一起放于(yu)壓盤探頭(tou)的正下方進(jìn)行(xing)測(cè)定,測(cè)定(ding)條件:
測(cè)試模式:壓縮(suo)
測(cè)試前速度:0.2mm/s
測(cè)試速度:0.2mm/s
測(cè)試后(hou)速度:0.2mm/s
觸發(fā)(fa)力:5g
目標(biāo)模式(shi):形變 60%
3 測(cè)定(ding)結(jié)果
? ? ?可以測(cè)定蛋(dan)的抗壓強(qiáng)(qiang)度、破(po)裂強(qiáng)度和穿刺(ci)強(qiáng)度等指標(biāo)。