（1）餅干是什(shen)么樣的餅干(gan)？有沒(mei)有脆性？

對于一些(xie)很厚又較(jiao)軟的餅(bing)干，有硬度，但是(shi)相對來(lai)說脆性(xing)很小(xiao)或者沒有(you)脆性。而很薄又(you)脆的(de)酥性餅(bing)干，相對而言才(cai)有硬度和脆(cui)性的說法。

（2）測餅(bing)干的硬度和(he)脆性應該選(xuan)用哪些配件？

通常應該(gai)選用2mm的(de)柱形探(tan)頭和帶孔(kong)的平臺，柱形探(tan)頭穿(chuan)刺完樣品(pin)之后從(cong)平臺(tai)的孔中穿(chuan)出，保證樣品(pin)穿刺*而(er)不會對探頭(tou)有損壞(huai)。

（3）測試條件如(ru)何選擇？ ? ?

測試(shi)前速度不宜太(tai)快，太(tai)快容易造(zao)成延遲啟動(dong)分析，通(tong)常不超過(guo)3mm/s為宜；測試速度(du)以受(shou)力均勻、樣(yang)品與探(tan)頭充分受(shou)力為(wei)宜，通(tong)常測試速度較(jiao)小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合適；測(ce)試后速度主要(yao)和粘性有關，如(ru)果不(bu)考慮樣品粘(zhan)性或(huo)者樣品沒有(you)粘性，測試(shi)后速度可以(yi)調快(kuai)一點。目標(biao)模式(shi)也就是探(tan)頭壓到(dao)什么時候(hou)停止呢，建議采(cai)用距離模式，探(tan)頭測(ce)試移(yi)動距離(li)大于樣(yang)品的高(gao)度，從(cong)而保證*穿刺(ci)樣品。

（4）餅干的硬度(du)和脆性如何(he)定義呢(ne)？

這個是典型的(de)餅干曲線，波動(dong)可能是由(you)餅干的破裂(lie)或是餅干(gan)內部(bu)有大的內含物(wu)而造成(cheng)。因此，一(yi)般將曲線(xian)內的(de)zui高峰定義為(wei)餅干(gan)的硬度，線性距(ju)離定(ding)義為餅干的(de)酥脆(cui)性，線性距離(li)越短，餅干的(de)酥脆性越好。