（1）餅干是什么樣(yang)的餅干？有(you)沒有(you)脆性？

對于(yu)一些很(hen)厚又較軟的(de)餅干(gan)，有硬度，但(dan)是相對來(lai)說脆性很小或(huo)者沒有脆性。而(er)很薄又脆的酥(su)性餅(bing)干，相對而言才(cai)有硬度和脆性(xing)的說法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性(xing)應(yīng)該選用哪些(xie)配件(jian)？

通常應(yīng)該選(xuan)用2mm的(de)柱形探頭和(he)帶孔的平臺，柱(zhu)形探頭穿刺完(wan)樣品之后從平(ping)臺的孔中(zhong)穿出，保(bao)證樣品穿刺(ci)*而不會對探(tan)頭有損壞。

（3）測試(shi)條件如何選(xuan)擇？ ? ?

測試前速(su)度不宜(yi)太快，太(tai)快容(rong)易造成延遲(chi)啟動分析，通常(chang)不超過3mm/s為宜；測(ce)試速度以受力(li)均勻、樣品與探(tan)頭充分受力(li)為宜，通(tong)常測(ce)試速度較小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合適；測(ce)試后速(su)度主要和(he)粘性有關(guān)，如(ru)果不(bu)考慮(lv)樣品(pin)粘性或(huo)者樣(yang)品沒有粘性，測(ce)試后速度可以(yi)調(diào)快一點(dian)。目標(biāo)(biao)模式(shi)也就是探頭壓(ya)到什么時(shi)候停止呢，建議(yi)采用距(ju)離模式，探頭(tou)測試移動距(ju)離大于樣品(pin)的高度(du)，從而保證(zheng)*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干的(de)硬度和脆性(xing)如何定義呢？

這個是典(dian)型的(de)餅干(gan)曲線，波動可能(neng)是由餅(bing)干的破裂(lie)或是餅(bing)干內(nèi)部有大(da)的內(nèi)含物而(er)造成。因此(ci)，一般將曲線(xian)內(nèi)的zui高峰定(ding)義為(wei)餅干的硬(ying)度，線(xian)性距離(li)定義為(wei)餅干(gan)的酥(su)脆性，線(xian)性距離越短(duan)，餅干的酥(su)脆性越好(hao)。