（1）餅干是什么(me)樣的餅(bing)干？有沒有(you)脆性？

對于一些(xie)很厚(hou)又較(jiao)軟的餅干，有硬(ying)度，但是相對(dui)來說脆性很(hen)小或(huo)者沒有(you)脆性。而很薄又(you)脆的酥性餅(bing)干，相對而言(yan)才有硬度和(he)脆性的說法(fa)。

（2）測餅干(gan)的硬(ying)度和(he)脆性應(yīng)該(gai)選用哪些配件(jian)？

通常應(yīng)該選用(yong)2mm的柱(zhu)形探頭和帶(dai)孔的平(ping)臺，柱形探頭穿(chuan)刺完樣品之后(hou)從平臺的孔中(zhong)穿出，保證樣品(pin)穿刺*而不會(hui)對探頭有損壞(huai)。

（3）測試條件如何(he)選擇？ ? ?

測試(shi)前速(su)度不(bu)宜太快，太快容(rong)易造(zao)成延遲啟動分(fen)析，通常(chang)不超過(guo)3mm/s為宜；測(ce)試速度(du)以受力均勻(yun)、樣品與探頭充(chong)分受力為宜(yi)，通常測試(shi)速度較(jiao)小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測試后(hou)速度(du)主要和粘(zhan)性有關(guān)，如(ru)果不考(kao)慮樣品(pin)粘性或者樣(yang)品沒有粘(zhan)性，測(ce)試后速度(du)可以調(diào)快一點(diǎn)(dian)。目標(biāo)(biao)模式也就(jiu)是探(tan)頭壓到(dao)什么時候(hou)停止呢，建議(yi)采用(yong)距離模式，探頭(tou)測試(shi)移動(dong)距離大于(yu)樣品(pin)的高度(du)，從而保證*穿刺(ci)樣品。

（4）餅干(gan)的硬度(du)和脆性如何(he)定義呢？

這個(ge)是典型的餅(bing)干曲(qu)線，波動可(ke)能是由餅(bing)干的破(po)裂或是餅干內(nèi)(nei)部有大(da)的內(nèi)(nei)含物(wu)而造成。因(yin)此，一般將曲線(xian)內(nèi)的(de)zui高峰定(ding)義為餅(bing)干的(de)硬度，線(xian)性距(ju)離定義為餅(bing)干的(de)酥脆(cui)性，線性(xing)距離越短，餅(bing)干的酥脆性(xing)越好(hao)。