技術(shù)文(wen)章
Technical articles蛋在腌制過(guò)(guo)程中,蛋殼的(de)品質(zhì)是影響蛋(dan)成品品質(zhì)(zhi)的重要(yao)因素(su),對(duì)不同(tong)品質(zhì)的蛋殼(ke),吸收和滲(shen)透?jìng)?chuan)遞食鹽等(deng)的能(neng)力不(bu)同,直接影響(xiang)咸蛋等的(de)加工時(shí)(shi)間。如薄殼(ke)蛋對(duì)食(shi)鹽滲透能力強(qiáng)(qiang),成熟期短(duan);反之,厚蛋(dan)殼對(duì)食(shi)鹽的滲(shen)透能力(li)差,成熟(shu)期長(zhǎng)(zhang)。蛋殼(ke)的孔(kong)隙數(shù)目越多,尺(chi)寸越大,對(duì)(dui)食鹽的滲透能(neng)力越強(qiáng),蛋品的(de)腌制時(shí)間(jian)也越短;反之(zhi),蛋殼孔(kong)隙數(shù)目越少,尺(chi)寸越(yue)小的蛋品腌制(zhi)時(shí)間越長(zhǎng)。有研(yan)究表明(ming),蛋殼(ke)的力學(xué)特性(xing),如蛋殼的強(qiáng)(qiang)度、硬度(du)等于蛋殼的(de)超微孔(kong)隙結(jié)構(gòu)有直(zhi)接關(guān)系(xi),強(qiáng)度高的蛋殼(ke)結(jié)構(gòu)緊(jin)密,孔隙(xi)尺寸較??;強(qiáng)度(du)低的(de)蛋殼結(jié)(jie)構(gòu)稀疏,孔隙尺(chi)寸較大。因此,蛋(dan)殼的品質(zhì)、滲透(tou)特性與(yu)蛋殼微觀結(jié)(jie)構(gòu)三(san)者之間有著(zhe)十分緊密的關(guān)(guan)系,對(duì)蛋殼力(li)學(xué)特性的(de)研究部(bu)件能為禽蛋(dan)等運(yùn)輸?shù)忍峁?gong)理論依(yi)據(jù),還能對(duì)(dui)將來(lái)(lai)深入(ru)蛋殼(ke)的微觀結(jié)構(gòu)奠(dian)定基礎(chǔ)(chu)。
1 蛋樣品(pin)準(zhǔn)備(bei)
購(gòu)買(mǎi)鴨蛋樣(yang)品若干(gan),蛋重約60-80g。
2 儀器測(cè)(ce)定
(1)穿刺測(cè)試
儀器:Universal TA物(wu)性分析儀(質(zhì)構(gòu)(gou)儀)
探頭(tou):P/2柱形探頭(tou)
配件:蛋托(tuo)
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? ? ?將處理(li)好的鴨蛋樣(yang)品放(fang)于蛋托裝(zhuang)置上,然后(hou)一起放(fang)于柱形(xing)探頭的正下方(fang)進(jìn)行測(cè)定,測(cè)(ce)定條(tiao)件:
測(cè)試(shi)模式:穿刺
測(cè)試前(qian)速度(du):0.2mm/s
測(cè)試速度:0.2mm/s
測(cè)試后速度(du):0.2mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模(mo)式:距離 3mm
(2)壓縮測(cè)試
儀器:Universal TA物性分(fen)析儀(質(zhì)(zhi)構(gòu)儀)
探頭:P/75壓盤(pán)探(tan)頭
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? ? ?將處理好的鴨(ya)蛋樣品放于蛋(dan)托裝置上,然后(hou)一起放于壓盤(pán)(pan)探頭的正下方(fang)進(jìn)行測(cè)定,測(cè)(ce)定條件:
測(cè)試模式:壓(ya)縮
測(cè)試前速度:0.2mm/s
測(cè)試(shi)速度:0.2mm/s
測(cè)試(shi)后速度(du):0.2mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模式(shi):形變(bian) 60%
3 測(cè)定結(jié)(jie)果
? ? ?可以測(cè)定蛋(dan)的抗(kang)壓強(qiáng)(qiang)度、破裂強(qiáng)度和(he)穿刺強(qiáng)度等指(zhi)標(biāo)。