（1）餅干(gan)是什么樣(yang)的餅干(gan)？有沒有(you)脆性？

對(duì)于一些很(hen)厚又較(jiao)軟的(de)餅干，有硬度(du)，但是相對(duì)來(lai)說脆性很小(xiao)或者沒有(you)脆性。而很薄又(you)脆的酥性餅(bing)干，相(xiang)對(duì)而言(yan)才有硬度和脆(cui)性的說法(fa)。

（2）測(cè)餅(bing)干的硬(ying)度和(he)脆性應(yīng)該選用(yong)哪些配(pei)件？

通常應(yīng)該(gai)選用2mm的(de)柱形探頭(tou)和帶孔的平(ping)臺(tái)，柱形(xing)探頭穿刺(ci)完樣(yang)品之后從平(ping)臺(tái)的孔中穿(chuan)出，保證樣品穿(chuan)刺*而不會(huì)對(duì)探(tan)頭有損壞(huai)。

（3）測(cè)試條件如何(he)選擇？ ? ?

測(cè)試前(qian)速度不(bu)宜太(tai)快，太(tai)快容易造成延(yan)遲啟動(dòng)分析，通(tong)常不超過3mm/s為(wei)宜；測(cè)(ce)試速度(du)以受力均勻(yun)、樣品與探頭充(chong)分受力為宜，通(tong)常測(cè)(ce)試速(su)度較小，在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測(cè)試后速(su)度主(zhu)要和(he)粘性有(you)關(guān)，如果不(bu)考慮樣品(pin)粘性或者樣品(pin)沒有粘性，測(cè)(ce)試后(hou)速度可以調(diào)(diao)快一點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模(mo)式也就是探頭(tou)壓到什么時(shí)候(hou)停止(zhi)呢，建議采用(yong)距離(li)模式，探頭測(cè)試(shi)移動(dòng)距(ju)離大于(yu)樣品的(de)高度(du)，從而保(bao)證*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干(gan)的硬度(du)和脆性(xing)如何定義呢？

這個(gè)是典型的(de)餅干曲(qu)線，波動(dòng)可能(neng)是由餅(bing)干的破(po)裂或是餅干內(nèi)(nei)部有大的內(nèi)含(han)物而(er)造成。因此(ci)，一般將(jiang)曲線內(nèi)(nei)的zui高峰定義(yi)為餅(bing)干的硬度，線性(xing)距離(li)定義為餅干(gan)的酥脆性，線(xian)性距(ju)離越短(duan)，餅干的酥(su)脆性(xing)越好。