（1）餅干是(shi)什么樣的餅(bing)干？有沒有(you)脆性？

對(duì)于(yu)一些(xie)很厚又較(jiao)軟的(de)餅干(gan)，有硬度，但(dan)是相對(duì)來說脆(cui)性很小或者(zhe)沒有脆性(xing)。而很(hen)薄又脆的(de)酥性餅(bing)干，相對(duì)而(er)言才有硬度和(he)脆性的說法(fa)。

（2）測(cè)餅干(gan)的硬度(du)和脆性應(yīng)(ying)該選用哪些(xie)配件？

通常應(yīng)(ying)該選用2mm的(de)柱形探頭和(he)帶孔(kong)的平臺(tái)，柱(zhu)形探頭穿刺完(wan)樣品之后從平(ping)臺(tái)的孔中(zhong)穿出，保證樣(yang)品穿刺*而不(bu)會(huì)對(duì)探(tan)頭有損(sun)壞。

（3）測(cè)試條件(jian)如何選擇？ ? ?

測(cè)試(shi)前速度(du)不宜太快，太(tai)快容易造成(cheng)延遲啟動(dòng)(dong)分析，通常(chang)不超過(guo)3mm/s為宜；測(cè)試速度(du)以受力均勻(yun)、樣品(pin)與探頭充分(fen)受力(li)為宜(yi)，通常測(cè)試速(su)度較(jiao)小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測(cè)試(shi)后速度主要(yao)和粘性有關(guān)，如(ru)果不考慮(lv)樣品粘(zhan)性或者(zhe)樣品沒有(you)粘性，測(cè)試后速(su)度可以調(diào)(diao)快一(yi)點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模式也就是(shi)探頭壓到(dao)什么時(shí)候(hou)停止呢(ne)，建議采(cai)用距離模式(shi)，探頭測(cè)(ce)試移動(dòng)距離(li)大于樣品(pin)的高度，從而(er)保證*穿刺樣(yang)品。

（4）餅干的(de)硬度和脆(cui)性如何定(ding)義呢？

這個(gè)是典型(xing)的餅干曲線(xian)，波動(dòng)可能是由(you)餅干的破(po)裂或是(shi)餅干(gan)內(nèi)部有大的(de)內(nèi)含物而造成(cheng)。因此，一般(ban)將曲線(xian)內(nèi)的zui高(gao)峰定義(yi)為餅干的硬(ying)度，線性距(ju)離定(ding)義為餅干(gan)的酥脆性(xing)，線性距離(li)越短，餅干的(de)酥脆(cui)性越好(hao)。