（1）餅干(gan)是什么樣的(de)餅干？有沒有脆(cui)性？

對于一(yi)些很厚(hou)又較(jiao)軟的餅干(gan)，有硬度(du)，但是相(xiang)對來說脆(cui)性很小或者沒(mei)有脆(cui)性。而很薄(bao)又脆的酥性餅(bing)干，相對(dui)而言才有硬(ying)度和脆(cui)性的說法(fa)。

（2）測餅干(gan)的硬度和(he)脆性應(yīng)該選用(yong)哪些(xie)配件(jian)？

通常應(yīng)該選(xuan)用2mm的(de)柱形探頭(tou)和帶孔的平(ping)臺，柱形(xing)探頭穿刺(ci)完樣品(pin)之后(hou)從平臺的孔(kong)中穿出，保(bao)證樣品(pin)穿刺(ci)*而不會對(dui)探頭(tou)有損壞。

（3）測試條件如(ru)何選擇(ze)？ ? ?

測試前(qian)速度(du)不宜(yi)太快(kuai)，太快容易(yi)造成延遲啟(qi)動分析(xi)，通常不超過(guo)3mm/s為宜；測試速度(du)以受(shou)力均勻、樣品與(yu)探頭充分(fen)受力為宜，通(tong)常測(ce)試速度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適；測試(shi)后速度(du)主要和粘性(xing)有關(guān)，如果不考(kao)慮樣品粘性或(huo)者樣品沒有粘(zhan)性，測試后速度(du)可以(yi)調(diào)快一(yi)點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模式也(ye)就是探頭壓到(dao)什么時候(hou)停止呢，建議采(cai)用距(ju)離模式(shi)，探頭測試移動(dong)距離大于樣品(pin)的高度，從而保(bao)證*穿刺(ci)樣品(pin)。

（4）餅干(gan)的硬(ying)度和脆(cui)性如何定義呢(ne)？

這個是(shi)典型的(de)餅干曲線，波(bo)動可能是(shi)由餅干的破裂(lie)或是餅(bing)干內(nèi)(nei)部有(you)大的內(nèi)(nei)含物而造(zao)成。因此，一(yi)般將曲線內(nèi)的(de)zui高峰定(ding)義為餅干(gan)的硬度(du)，線性距(ju)離定(ding)義為餅(bing)干的酥(su)脆性，線(xian)性距離越(yue)短，餅(bing)干的酥(su)脆性(xing)越好。