（1）餅干是什么樣(yang)的餅干(gan)？有沒(méi)有脆性(xing)？

對(duì)于一些(xie)很厚又(you)較軟(ruan)的餅干(gan)，有硬度，但是(shi)相對(duì)(dui)來(lái)說(shuō)脆(cui)性很小或者沒(méi)(mei)有脆(cui)性。而很薄又(you)脆的(de)酥性餅干(gan)，相對(duì)(dui)而言才有硬度(du)和脆性的(de)說(shuō)法。

（2）測(cè)餅(bing)干的硬(ying)度和脆性應(yīng)該(gai)選用哪(na)些配件(jian)？

通常應(yīng)(ying)該選用2mm的柱(zhu)形探頭(tou)和帶孔(kong)的平(ping)臺(tái)，柱形探(tan)頭穿刺完樣品(pin)之后從平臺(tái)的(de)孔中(zhong)穿出，保證樣(yang)品穿刺*而(er)不會(huì)對(duì)(dui)探頭有損壞。

（3）測(cè)試條件如何(he)選擇？ ? ?

測(cè)試前速度(du)不宜太快，太(tai)快容易造成延(yan)遲啟動(dòng)分(fen)析，通常不超(chao)過(guò)3mm/s為宜；測(cè)試速(su)度以受力均(jun)勻、樣品與探頭(tou)充分受(shou)力為宜(yi)，通常測(cè)試速度(du)較小，在0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測(cè)試后速(su)度主要和(he)粘性有關(guān)，如(ru)果不考(kao)慮樣品粘(zhan)性或者樣(yang)品沒(méi)有粘性，測(cè)(ce)試后(hou)速度(du)可以調(diào)快一點(diǎn)(dian)。目標(biāo)(biao)模式也就是探(tan)頭壓到什么時(shí)(shi)候停止呢，建議(yi)采用距離模(mo)式，探頭(tou)測(cè)試移(yi)動(dòng)距離大(da)于樣品(pin)的高(gao)度，從而保證(zheng)*穿刺(ci)樣品。

（4）餅干的(de)硬度和脆(cui)性如(ru)何定義(yi)呢？

這個(gè)是典型(xing)的餅干曲(qu)線(xiàn)，波(bo)動(dòng)可能是(shi)由餅干的(de)破裂或(huo)是餅(bing)干內(nèi)部有大(da)的內(nèi)含物而造(zao)成。因(yin)此，一般(ban)將曲線(xiàn)內(nèi)(nei)的zui高峰(feng)定義為餅(bing)干的硬度，線(xiàn)(xian)性距離定(ding)義為餅干的(de)酥脆性，線(xiàn)性距(ju)離越短，餅干的(de)酥脆性(xing)越好。