（1）餅干(gan)是什么樣的餅(bing)干？有(you)沒有脆性(xing)？

對于一些很(hen)厚又(you)較軟(ruan)的餅干，有(you)硬度，但是相對(dui)來說脆性很(hen)小或者沒(mei)有脆性。而很薄(bao)又脆的酥(su)性餅(bing)干，相對而言才(cai)有硬度和脆性(xing)的說(shuo)法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性應(yīng)該選(xuan)用哪些配件(jian)？

通常應(yīng)該(gai)選用2mm的柱形探(tan)頭和帶孔的平(ping)臺，柱形探頭穿(chuan)刺完樣品之(zhi)后從平(ping)臺的孔中穿出(chu)，保證樣品穿(chuan)刺*而不會對(dui)探頭有損壞(huai)。

（3）測試條(tiao)件如(ru)何選擇(ze)？ ? ?

測試前(qian)速度不宜太(tai)快，太快容易造(zao)成延遲啟(qi)動分(fen)析，通常(chang)不超過3mm/s為宜(yi)；測試(shi)速度以受力(li)均勻、樣(yang)品與探(tan)頭充(chong)分受力為宜，通(tong)常測試速(su)度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適；測(ce)試后速度(du)主要和粘性(xing)有關(guān)，如(ru)果不考慮樣(yang)品粘性或者樣(yang)品沒(mei)有粘性，測(ce)試后速度可以(yi)調(diào)快一點(diǎn)(dian)。目標(biāo)模式也(ye)就是探頭壓到(dao)什么時(shí)候(hou)停止呢，建議采(cai)用距離模式(shi)，探頭測(ce)試移(yi)動距離大(da)于樣品的高度(du)，從而保(bao)證*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干(gan)的硬度和脆(cui)性如何(he)定義呢？

這個(gè)是典(dian)型的餅干曲線(xian)，波動(dong)可能(neng)是由(you)餅干(gan)的破裂或是(shi)餅干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)含物(wu)而造成。因此(ci)，一般將(jiang)曲線(xian)內(nèi)的(de)zui高峰(feng)定義為餅干的(de)硬度，線性(xing)距離定(ding)義為餅干的酥(su)脆性(xing)，線性距(ju)離越(yue)短，餅干的酥(su)脆性(xing)越好。