（1）餅干(gan)是什么樣(yang)的餅干(gan)？有沒有(you)脆性？

對于一些很(hen)厚又較軟(ruan)的餅干，有(you)硬度，但(dan)是相對(dui)來說脆性(xing)很小或(huo)者沒有脆(cui)性。而很薄又(you)脆的(de)酥性餅(bing)干，相對而(er)言才有硬度和(he)脆性的說法。

（2）測餅干的(de)硬度和脆性(xing)應該選用(yong)哪些配件？

通常(chang)應該(gai)選用2mm的柱(zhu)形探頭(tou)和帶孔的平臺(tai)，柱形探(tan)頭穿刺完樣品(pin)之后(hou)從平臺(tai)的孔中穿出，保(bao)證樣品(pin)穿刺*而不會對(dui)探頭有損(sun)壞。

（3）測試條件如何(he)選擇？ ? ?

測試(shi)前速度不宜太(tai)快，太快容易(yi)造成延(yan)遲啟(qi)動分析，通常(chang)不超過3mm/s為宜(yi)；測試速度(du)以受力均勻、樣(yang)品與探頭充分(fen)受力為宜，通常(chang)測試速度較(jiao)小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測試(shi)后速度主要和(he)粘性有(you)關，如果不考慮(lv)樣品(pin)粘性或(huo)者樣品沒有粘(zhan)性，測試后速(su)度可(ke)以調快一(yi)點。目標模式(shi)也就(jiu)是探(tan)頭壓到(dao)什么時(shi)候停止呢，建(jian)議采(cai)用距離模式，探(tan)頭測試移動距(ju)離大(da)于樣(yang)品的高度，從而(er)保證*穿(chuan)刺樣品。

（4）餅干的硬(ying)度和(he)脆性如(ru)何定義呢(ne)？

這個是(shi)典型的(de)餅干曲(qu)線，波動可能是(shi)由餅干的破(po)裂或是餅干(gan)內部有(you)大的內含物(wu)而造成。因此，一(yi)般將曲(qu)線內的zui高(gao)峰定義為餅(bing)干的硬(ying)度，線性(xing)距離(li)定義為餅干(gan)的酥(su)脆性，線(xian)性距離越短，餅(bing)干的(de)酥脆性越(yue)好。