技術文(wen)章
Technical articles當前位置:首頁
技術文章(zhang)
質構儀(yi)測餅干(gan)的硬度和(he)脆性需要(yao)關注幾個問(wen)題?
(1)餅干是(shi)什么樣的(de)餅干?有沒(mei)有脆性?
對于一些很厚(hou)又較軟(ruan)的餅干,有硬(ying)度,但是相(xiang)對來說脆性很(hen)小或者沒有脆(cui)性。而很(hen)薄又脆的酥性(xing)餅干,相(xiang)對而(er)言才有硬(ying)度和脆(cui)性的說法(fa)。
(2)測餅干的硬(ying)度和脆性(xing)應該選用哪些(xie)配件?
通常(chang)應該選用(yong)2mm的柱形探頭(tou)和帶孔的平臺(tai),柱形探頭穿(chuan)刺完樣品之后(hou)從平(ping)臺的孔(kong)中穿出(chu),保證(zheng)樣品穿刺*而(er)不會(hui)對探(tan)頭有損壞。
(3)測試條件如何(he)選擇? ? ?
測試前速(su)度不宜太快,太(tai)快容(rong)易造成延遲啟(qi)動分(fen)析,通常不超(chao)過3mm/s為宜;測(ce)試速度以受(shou)力均勻(yun)、樣品(pin)與探頭充分(fen)受力為(wei)宜,通常測試速(su)度較小,在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適;測(ce)試后(hou)速度主要(yao)和粘(zhan)性有關(guan),如果不(bu)考慮(lv)樣品粘性或(huo)者樣(yang)品沒有(you)粘性,測試后速(su)度可(ke)以調(diao)快一點。目(mu)標模式(shi)也就是探頭壓(ya)到什么時候停(ting)止呢,建議采(cai)用距離模式(shi),探頭測試(shi)移動距離大于(yu)樣品的高度(du),從而(er)保證*穿刺(ci)樣品。
(4)餅干的硬(ying)度和脆(cui)性如何定(ding)義呢(ne)?
這個是典型(xing)的餅干(gan)曲線(xian),波動可(ke)能是由餅干(gan)的破裂(lie)或是餅干內(nei)部有大的內(nei)含物而造成。因(yin)此,一般將曲(qu)線內的zui高峰(feng)定義為餅(bing)干的硬(ying)度,線性距離(li)定義(yi)為餅干的酥脆(cui)性,線性距(ju)離越短,餅干的(de)酥脆性(xing)越好。