（1）餅干是什(shen)么樣的餅干(gan)？有沒(méi)(mei)有脆性(xing)？

對(duì)于一(yi)些很(hen)厚又較(jiao)軟的餅干，有硬(ying)度，但是(shi)相對(duì)來(lái)說(shuō)脆(cui)性很小(xiao)或者沒(méi)有脆性(xing)。而很薄又(you)脆的酥性餅(bing)干，相(xiang)對(duì)而言才有(you)硬度和脆性的(de)說(shuō)法。

（2）測(cè)餅干的硬(ying)度和脆性應(yīng)該(gai)選用(yong)哪些配件？

通常應(yīng)該(gai)選用2mm的(de)柱形(xing)探頭和帶孔的(de)平臺(tái)，柱形探(tan)頭穿刺完樣(yang)品之后從(cong)平臺(tái)(tai)的孔中穿出，保(bao)證樣(yang)品穿(chuan)刺*而不會(huì)(hui)對(duì)探頭有(you)損壞(huai)。

（3）測(cè)試條件如(ru)何選擇(ze)？ ? ?

測(cè)試前(qian)速度不宜太(tai)快，太(tai)快容易造(zao)成延遲啟動(dòng)分(fen)析，通常(chang)不超過(guò)3mm/s為宜(yi)；測(cè)試(shi)速度以受力均(jun)勻、樣品與(yu)探頭(tou)充分受(shou)力為宜，通常(chang)測(cè)試速度較(jiao)小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合適；測(cè)(ce)試后速度主(zhu)要和(he)粘性有(you)關(guān)，如果(guo)不考慮(lv)樣品(pin)粘性或者樣(yang)品沒(méi)有粘性(xing)，測(cè)試后(hou)速度可以調(diào)(diao)快一點(diǎn)。目標(biāo)(biao)模式也就是(shi)探頭壓到(dao)什么時(shí)候停止(zhi)呢，建(jian)議采用距離(li)模式，探頭測(cè)試(shi)移動(dòng)距(ju)離大于樣(yang)品的高度，從而(er)保證*穿刺(ci)樣品。

（4）餅干的(de)硬度和脆性(xing)如何(he)定義呢(ne)？

這個(gè)是典(dian)型的餅干曲線(xian)，波動(dòng)可能是(shi)由餅干的(de)破裂或是餅(bing)干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)含(han)物而造成。因(yin)此，一般將曲(qu)線內(nèi)的zui高峰定(ding)義為餅(bing)干的硬度，線性(xing)距離定(ding)義為餅干的酥(su)脆性，線性(xing)距離越短，餅干(gan)的酥脆性越好(hao)。