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質(zhì)構(gòu)儀(yi)用于銀杏果貯(zhu)藏過(guò)程中質(zhì)(zhi)構(gòu)變(bian)化
? ? ?銀杏(xing)果是(shi)除去外(wai)種皮(pi)后的種核,其(qi)富含蛋(dan)白質(zhì)、氨(an)基酸、脂肪等(deng)營(yíng)養(yǎng)成分及黃(huang)酮、內(nèi)酯等有(you)效成分,具(ju)有*的經(jīng)濟(jì)價(jià)值(zhi)。隨著銀杏(xing)果產(chǎn)(chan)量的增加,其(qi)貯藏問(wèn)(wen)題日益(yi)突出,由(you)于其(qi)中水分和淀粉(fen)含量較高(gao),種子呼(hu)吸強(qiáng)度大,營(yíng)(ying)養(yǎng)成(cheng)分消耗快(kuai),采后(hou)極易出現(xiàn)霉?fàn)€(lan)變質(zhì)、失水硬化(hua)、糯性下降等現(xiàn)(xian)象而導(dǎo)致商品(pin)價(jià)值降低(di)
而質(zhì)構(gòu)(gou)儀作為物性分(fen)析儀器,可(ke)以用于(yu)監(jiān)測(cè)銀杏(xing)果在貯藏過(guò)程(cheng)中的(de)質(zhì)構(gòu)變化,從而(er)為獲得好的(de)貯藏保鮮(xian)方法,延長(zhǎng)貯(zhu)藏時(shí)間(jian)和保持(chi)貯藏品質(zhì)提(ti)供一(yi)定的參考。
1 TPA測(cè)定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)(gou)儀
探頭:P/36R柱(zhu)探頭
? ? ?將杏(xing)仁果置(zhi)于柱形探頭(tou)下進(jìn)行測(cè)試。測(cè)(ce)試條件設(shè)置如(ru)下
測(cè)試模式:TPA
測(cè)試(shi)前速度(du):1mm/s
測(cè)試速度:1mm/s
測(cè)試后速(su)度:1mm/s
觸發(fā)(fa)力:10g
目標(biāo)模(mo)式:形變(bian) ?30%
測(cè)定結(jié)(jie)果:可以(yi)測(cè)定銀杏果的(de)硬度、彈性、回(hui)復(fù)性、內(nèi)聚性和(he)咀嚼性(xing)等指(zhi)標(biāo)
2 穿刺測(cè)定
儀器:Universal TA質(zhì)構(gòu)儀(yi)
探頭:P/2柱(zhu)形探頭(tou)
將銀(yin)杏果置(zhi)于2mm柱形(xing)探頭下進(jìn)(jin)行測(cè)試。測(cè)試條(tiao)件設(shè)置如下
測(cè)試模(mo)式:穿刺(ci)
測(cè)試(shi)前速度:1mm/s
測(cè)試速度:1mm/s
測(cè)試后速(su)度:1mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)模式:距(ju)離 5mm
測(cè)定結(jié)果(guo):銀杏(xing)果果皮強(qiáng)度(du)、韌性、果(guo)肉硬度等指標(biāo)(biao)