（1）餅干是(shi)什么樣的餅干(gan)？有沒有脆性(xing)？

對(duì)于一(yi)些很(hen)厚又(you)較軟的(de)餅干，有硬度，但(dan)是相對(duì)來說脆(cui)性很小(xiao)或者沒有脆性(xing)。而很薄又(you)脆的酥性餅干(gan)，相對(duì)而(er)言才有硬(ying)度和脆性(xing)的說(shuo)法。

（2）測餅干的硬(ying)度和(he)脆性(xing)應(yīng)該選用哪(na)些配件(jian)？

通常(chang)應(yīng)該選(xuan)用2mm的柱形探頭(tou)和帶(dai)孔的平臺(tái)，柱(zhu)形探頭穿刺完(wan)樣品(pin)之后從平(ping)臺(tái)的孔中穿(chuan)出，保(bao)證樣品(pin)穿刺*而不會(huì)(hui)對(duì)探頭有(you)損壞(huai)。

（3）測試條(tiao)件如何選(xuan)擇？ ? ?

測試(shi)前速度不宜太(tai)快，太(tai)快容(rong)易造(zao)成延遲啟(qi)動(dòng)分析，通常(chang)不超(chao)過3mm/s為(wei)宜；測試速(su)度以受(shou)力均勻(yun)、樣品與探頭充(chong)分受力(li)為宜，通常測(ce)試速度較小(xiao)，在0.5mm/s-2mm/s比較合適(shi)；測試后(hou)速度主要和粘(zhan)性有(you)關(guān)，如果(guo)不考慮樣品粘(zhan)性或者(zhe)樣品沒有粘(zhan)性，測試后速(su)度可(ke)以調(diào)快一點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模(mo)式也就是(shi)探頭壓(ya)到什么(me)時(shí)候(hou)停止呢，建議采(cai)用距(ju)離模式，探頭(tou)測試移動(dòng)距離(li)大于樣品的高(gao)度，從(cong)而保證*穿(chuan)刺樣品(pin)。

（4）餅干的硬度(du)和脆(cui)性如何定義呢(ne)？

這個(gè)(ge)是典型的餅(bing)干曲線，波(bo)動(dòng)可能(neng)是由(you)餅干(gan)的破裂或是(shi)餅干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)含物(wu)而造成。因此，一(yi)般將曲線內(nèi)的(de)zui高峰(feng)定義為餅干(gan)的硬度，線性距(ju)離定義為(wei)餅干的酥(su)脆性，線性距離(li)越短，餅干(gan)的酥(su)脆性越好(hao)。