（1）餅干是什么(me)樣的餅干？有(you)沒有脆性(xing)？

對于一些(xie)很厚又較(jiao)軟的餅干(gan)，有硬度，但是相(xiang)對來說脆(cui)性很小或者沒(mei)有脆性。而(er)很薄又脆的酥(su)性餅干(gan)，相對而言(yan)才有硬(ying)度和脆性(xing)的說(shuo)法。

（2）測餅干的硬(ying)度和脆性應(yīng)該(gai)選用哪(na)些配件？

通常應(yīng)該選(xuan)用2mm的柱形(xing)探頭和帶孔的(de)平臺(tái)，柱(zhu)形探頭穿(chuan)刺完樣品之(zhi)后從(cong)平臺(tái)的孔中穿(chuan)出，保證樣品穿(chuan)刺*而不(bu)會(huì)對(dui)探頭有損壞(huai)。

（3）測試條件如(ru)何選(xuan)擇？ ? ?

測試(shi)前速度不(bu)宜太快(kuai)，太快容(rong)易造成延(yan)遲啟動(dòng)(dong)分析(xi)，通常不(bu)超過3mm/s為(wei)宜；測試速度(du)以受力均(jun)勻、樣品與探(tan)頭充(chong)分受力為宜，通(tong)常測(ce)試速度較小(xiao)，在0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測試后速(su)度主要和粘(zhan)性有關(guān)(guan)，如果不(bu)考慮樣(yang)品粘性或者(zhe)樣品沒(mei)有粘性(xing)，測試后速度可(ke)以調(diào)快一點(diǎn)。目(mu)標(biāo)模式也(ye)就是探(tan)頭壓到什么時(shí)(shi)候停止呢，建議(yi)采用距離模式(shi)，探頭測試移(yi)動(dòng)距離大于(yu)樣品(pin)的高(gao)度，從而保證(zheng)*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干的硬度(du)和脆性如何(he)定義(yi)呢？

這個(gè)是典型的(de)餅干曲線，波動(dòng)(dong)可能是由(you)餅干的(de)破裂或(huo)是餅干內(nèi)部有(you)大的內(nèi)(nei)含物而(er)造成。因此，一(yi)般將曲線內(nèi)(nei)的zui高(gao)峰定義為(wei)餅干的硬度(du)，線性距(ju)離定(ding)義為餅干(gan)的酥脆性，線(xian)性距離(li)越短(duan)，餅干(gan)的酥(su)脆性越(yue)好。