技術(shù)文章
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技術(shù)(shu)文章
物性分析(xi)儀(質(zhì)構(gòu)儀(yi))用于蛋殼力(li)學(xué)特性(xing)研究(jiu)
蛋在腌制過(guo)程中,蛋殼(ke)的品質(zhì)是影(ying)響蛋成品品質(zhì)(zhi)的重要因素,對(duì)(dui)不同(tong)品質(zhì)的蛋殼,吸(xi)收和滲透?jìng)?chuan)遞食(shi)鹽等(deng)的能力不(bu)同,直接影響咸(xian)蛋等的加工時(shí)(shi)間。如(ru)薄殼蛋對(duì)(dui)食鹽滲(shen)透能力強(qiáng)(qiang),成熟期短;反(fan)之,厚蛋殼對(duì)食(shi)鹽的滲(shen)透能力差,成熟(shu)期長(zhǎng)(zhang)。蛋殼的孔隙數(shù)(shu)目越多,尺(chi)寸越大,對(duì)食(shi)鹽的滲透能(neng)力越強(qiáng),蛋品的(de)腌制時(shí)間也(ye)越短;反之,蛋(dan)殼孔隙(xi)數(shù)目越少(shao),尺寸越(yue)小的(de)蛋品腌制時(shí)(shi)間越長(zhǎng)(zhang)。有研究表明,蛋(dan)殼的力學(xué)特性(xing),如蛋殼的強(qiáng)度(du)、硬度等于蛋(dan)殼的超微孔隙(xi)結(jié)構(gòu)有直接(jie)關(guān)系,強(qiáng)度高的(de)蛋殼結(jié)構(gòu)緊密(mi),孔隙尺寸較(jiao)??;強(qiáng)度低的蛋(dan)殼結(jié)構(gòu)稀(xi)疏,孔隙(xi)尺寸較大(da)。因此,蛋殼的(de)品質(zhì)(zhi)、滲透特性與(yu)蛋殼(ke)微觀結(jié)(jie)構(gòu)三者之間有(you)著十分緊密的(de)關(guān)系,對(duì)蛋(dan)殼力學(xué)特性(xing)的研(yan)究部件能為禽(qin)蛋等運(yùn)輸?shù)忍?ti)供理(li)論依據(jù),還(hai)能對(duì)將來(lai)深入蛋殼(ke)的微觀結(jié)構(gòu)奠(dian)定基礎(chǔ)。
1 蛋樣品準(zhǔn)(zhun)備
購買鴨蛋(dan)樣品若干(gan),蛋重約(yue)60-80g。
2 儀器測(cè)定
(1)穿刺(ci)測(cè)試
儀器:Universal TA物性分析(xi)儀(質(zhì)構(gòu)(gou)儀)
探頭:P/2柱(zhu)形探頭(tou)
配件(jian):蛋托(tuo)
? ?
? ? ?將處理好(hao)的鴨蛋樣品(pin)放于蛋托裝置(zhi)上,然(ran)后一(yi)起放于柱形(xing)探頭(tou)的正下方進(jìn)(jin)行測(cè)定,測(cè)定(ding)條件:
測(cè)試模式:穿刺(ci)
測(cè)試(shi)前速度(du):0.2mm/s
測(cè)試速度:0.2mm/s
測(cè)試后(hou)速度:0.2mm/s
觸發(fā)力:5g
目標(biāo)(biao)模式:距離(li) 3mm
(2)壓縮測(cè)試
儀器(qi):Universal TA物性分析儀(yi)(質(zhì)構(gòu)儀)
探頭(tou):P/75壓盤探(tan)頭
?
? ? ?將處理好的(de)鴨蛋樣品(pin)放于(yu)蛋托裝置(zhi)上,然后一起放(fang)于壓盤探頭的(de)正下方進(jìn)行(xing)測(cè)定,測(cè)(ce)定條件:
測(cè)試模式(shi):壓縮
測(cè)試前速度:0.2mm/s
測(cè)試速度(du):0.2mm/s
測(cè)試后速度:0.2mm/s
觸發(fā)力(li):5g
目標(biāo)模(mo)式:形變 60%
3 測(cè)定(ding)結(jié)果(guo)
? ? ?可以測(cè)定蛋(dan)的抗壓(ya)強(qiáng)度、破裂(lie)強(qiáng)度和(he)穿刺強(qiáng)度(du)等指(zhi)標(biāo)。