（1）餅干是什(shen)么樣的餅干？有(you)沒有脆(cui)性？

對于一(yi)些很厚又較軟(ruan)的餅(bing)干，有硬度，但(dan)是相對來說(shuo)脆性很小或者(zhe)沒有脆性。而很(hen)薄又(you)脆的(de)酥性餅干，相對(dui)而言才有硬度(du)和脆性的說(shuo)法。

（2）測餅干的硬度(du)和脆性(xing)應(yīng)該選用哪些(xie)配件？

通常(chang)應(yīng)該(gai)選用2mm的柱(zhu)形探頭和帶(dai)孔的平臺(tai)，柱形(xing)探頭穿(chuan)刺完樣(yang)品之后從平臺(tai)的孔中穿(chuan)出，保(bao)證樣品穿刺*而(er)不會對探頭有(you)損壞(huai)。

（3）測試條件如(ru)何選擇？ ? ?

測試前速(su)度不宜太快，太(tai)快容(rong)易造成延遲(chi)啟動分析(xi)，通常不超(chao)過3mm/s為宜(yi)；測試速度以(yi)受力均(jun)勻、樣品與(yu)探頭充(chong)分受力為(wei)宜，通常測(ce)試速度較小，在(zai)0.5mm/s-2mm/s比較合(he)適；測試后速度(du)主要和粘性(xing)有關(guān)，如果(guo)不考慮樣品粘(zhan)性或者樣品沒(mei)有粘性，測試(shi)后速(su)度可以調(diào)(diao)快一點(diǎn)。目標(biāo)(biao)模式也(ye)就是探頭(tou)壓到什么(me)時候停止呢(ne)，建議(yi)采用(yong)距離模(mo)式，探頭測試(shi)移動(dong)距離大(da)于樣(yang)品的高度(du)，從而保證*穿(chuan)刺樣品。

（4）餅干的硬度和(he)脆性如何(he)定義呢？

這個是典(dian)型的餅(bing)干曲線，波動(dong)可能是由餅(bing)干的(de)破裂(lie)或是餅干內(nèi)部(bu)有大(da)的內(nèi)(nei)含物而造成(cheng)。因此，一般將曲(qu)線內(nèi)的zui高峰定(ding)義為餅干的硬(ying)度，線性距離定(ding)義為(wei)餅干的酥脆(cui)性，線(xian)性距(ju)離越短，餅干(gan)的酥脆性越好(hao)。