（1）餅干(gan)是什么樣的(de)餅干？有沒(mei)有脆性(xing)？

對于(yu)一些很(hen)厚又(you)較軟的餅干(gan)，有硬度，但是(shi)相對來說(shuo)脆性很小或者(zhe)沒有(you)脆性。而很薄(bao)又脆的酥性(xing)餅干，相(xiang)對而(er)言才有硬度和(he)脆性(xing)的說法。

（2）測餅干的硬(ying)度和脆(cui)性應該選(xuan)用哪些配件(jian)？

通常應該(gai)選用2mm的柱形探(tan)頭和帶孔的平(ping)臺，柱形探頭(tou)穿刺(ci)完樣品(pin)之后從平臺的(de)孔中穿(chuan)出，保證(zheng)樣品穿刺(ci)*而不會對探(tan)頭有損壞。

（3）測試條件(jian)如何選(xuan)擇？ ? ?

測試前(qian)速度(du)不宜(yi)太快(kuai)，太快容易(yi)造成延遲啟動(dong)分析(xi)，通常不超(chao)過3mm/s為宜(yi)；測試速度以受(shou)力均勻、樣品與(yu)探頭充(chong)分受力為宜(yi)，通常(chang)測試(shi)速度(du)較小，在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合適(shi)；測試后速(su)度主要和(he)粘性有(you)關，如(ru)果不考慮樣(yang)品粘性或者樣(yang)品沒有(you)粘性，測試(shi)后速度可以(yi)調快一點。目(mu)標模式也就是(shi)探頭壓到(dao)什么時候停止(zhi)呢，建議采(cai)用距(ju)離模式，探頭(tou)測試移(yi)動距離大于樣(yang)品的高度，從(cong)而保證(zheng)*穿刺樣品。

（4）餅干(gan)的硬度和脆性(xing)如何定(ding)義呢(ne)？

這個是典型(xing)的餅干曲線(xian)，波動可(ke)能是由餅(bing)干的破裂或(huo)是餅干內部(bu)有大的內(nei)含物(wu)而造(zao)成。因此，一般將(jiang)曲線內的zui高(gao)峰定義為(wei)餅干的硬度(du)，線性(xing)距離定義為餅(bing)干的酥脆(cui)性，線性距離越(yue)短，餅干的(de)酥脆性越(yue)好。