技術(shù)(shu)文章
Technical articles(1)餅干(gan)是什么樣(yang)的餅干(gan)?有沒(mei)有脆性(xing)?
對于一些(xie)很厚(hou)又較軟(ruan)的餅干(gan),有硬度,但是相(xiang)對來說脆(cui)性很小或(huo)者沒有脆性。而(er)很薄又脆的酥(su)性餅干(gan),相對(dui)而言才(cai)有硬度(du)和脆性(xing)的說(shuo)法。
(2)測餅干的硬(ying)度和脆(cui)性應(yīng)該(gai)選用(yong)哪些配件?
通常應(yīng)該選(xuan)用2mm的柱(zhu)形探頭和(he)帶孔(kong)的平臺,柱形探(tan)頭穿(chuan)刺完樣品之后(hou)從平臺(tai)的孔中穿出(chu),保證樣(yang)品穿刺(ci)*而不(bu)會對探(tan)頭有損壞。
(3)測試條件如何(he)選擇? ? ?
測試前速度不(bu)宜太(tai)快,太快(kuai)容易(yi)造成延(yan)遲啟動分析(xi),通常(chang)不超過3mm/s為宜(yi);測試(shi)速度以受(shou)力均勻(yun)、樣品與(yu)探頭(tou)充分受力為(wei)宜,通常(chang)測試(shi)速度較小,在0.5mm/s-2mm/s比(bi)較合(he)適;測試后速(su)度主(zhu)要和(he)粘性有(you)關(guān),如果不考(kao)慮樣(yang)品粘性或(huo)者樣品沒有(you)粘性,測試(shi)后速度(du)可以調(diào)快(kuai)一點。目標(biāo)模(mo)式也就是探頭(tou)壓到什么時候(hou)停止呢,建議(yi)采用距離(li)模式,探(tan)頭測試(shi)移動距離大(da)于樣品的高度(du),從而保證*穿(chuan)刺樣品(pin)。
(4)餅干的(de)硬度和脆性(xing)如何(he)定義呢?
這個(ge)是典型的餅干(gan)曲線(xian),波動可能是(shi)由餅干的破裂(lie)或是餅干內(nèi)部(bu)有大的內(nèi)含(han)物而造(zao)成。因(yin)此,一般(ban)將曲線內(nèi)的zui高(gao)峰定義為(wei)餅干(gan)的硬度,線性(xing)距離定(ding)義為(wei)餅干的酥脆性(xing),線性距離越短(duan),餅干的(de)酥脆性(xing)越好。