（1）餅干是(shi)什么樣(yang)的餅干(gan)？有沒(méi)有脆性？

對(duì)于一些(xie)很厚又較軟的(de)餅干(gan)，有硬度(du)，但是相對(duì)(dui)來(lái)說(shuō)(shuo)脆性很小(xiao)或者(zhe)沒(méi)有脆性(xing)。而很薄又脆的(de)酥性餅(bing)干，相(xiang)對(duì)而言才(cai)有硬度和脆(cui)性的說(shuō)法(fa)。

（2）測(cè)餅干的(de)硬度和(he)脆性(xing)應(yīng)該選用哪(na)些配(pei)件？

通常(chang)應(yīng)該(gai)選用2mm的柱(zhu)形探頭(tou)和帶孔(kong)的平(ping)臺(tái)，柱形(xing)探頭(tou)穿刺完樣品之(zhi)后從平臺(tái)(tai)的孔(kong)中穿出，保證(zheng)樣品穿刺*而(er)不會(huì)(hui)對(duì)探頭有損(sun)壞。

（3）測(cè)試條件(jian)如何選擇？ ? ?

測(cè)試前(qian)速度不宜(yi)太快，太快容(rong)易造成(cheng)延遲啟動(dòng)分析(xi)，通常不超過(guò)(guo)3mm/s為宜；測(cè)(ce)試速度以(yi)受力均勻(yun)、樣品與(yu)探頭充(chong)分受力為宜，通(tong)常測(cè)試速(su)度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比較(jiao)合適(shi)；測(cè)試后速度(du)主要和(he)粘性有關(guān)，如(ru)果不(bu)考慮樣品(pin)粘性或者樣品(pin)沒(méi)有粘性，測(cè)試(shi)后速度(du)可以調(diào)快一點(diǎn)(dian)。目標(biāo)模式也就(jiu)是探頭壓(ya)到什么時(shí)(shi)候停止呢，建(jian)議采(cai)用距離模(mo)式，探頭測(cè)試移(yi)動(dòng)距(ju)離大于樣品(pin)的高度，從而保(bao)證*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干的硬(ying)度和脆(cui)性如何定(ding)義呢(ne)？

這個(gè)是典型(xing)的餅干(gan)曲線，波(bo)動(dòng)可能是由(you)餅干的破裂(lie)或是餅干內(nèi)(nei)部有大的(de)內(nèi)含物而造成(cheng)。因此，一般將曲(qu)線內(nèi)的zui高峰定(ding)義為(wei)餅干(gan)的硬(ying)度，線性距(ju)離定義為餅干(gan)的酥脆性，線性(xing)距離(li)越短，餅干(gan)的酥(su)脆性越好。