（1）餅干是什么樣(yang)的餅干？有(you)沒(méi)有(you)脆性？

對(duì)于一些很(hen)厚又較軟(ruan)的餅干(gan)，有硬度，但(dan)是相對(duì)來(lái)說(shuō)脆(cui)性很(hen)小或(huo)者沒(méi)有脆(cui)性。而很薄又(you)脆的酥(su)性餅干，相對(duì)(dui)而言才有硬度(du)和脆性的說(shuō)法(fa)。

（2）測(cè)餅干(gan)的硬度和脆性(xing)應(yīng)該選用(yong)哪些配件？

通常應(yīng)該(gai)選用2mm的柱形(xing)探頭和帶孔的(de)平臺(tái)，柱形探頭(tou)穿刺完樣(yang)品之后(hou)從平臺(tái)的(de)孔中穿出，保證(zheng)樣品穿刺(ci)*而不會(huì)對(duì)探頭(tou)有損壞。

（3）測(cè)試條件如何(he)選擇？ ? ?

測(cè)試(shi)前速度不宜太(tai)快，太快(kuai)容易(yi)造成延遲啟動(dòng)(dong)分析，通常(chang)不超過(guò)(guo)3mm/s為宜；測(cè)試速度(du)以受力均勻、樣(yang)品與探頭充(chong)分受力為宜，通(tong)常測(cè)試速度較(jiao)小，在0.5mm/s-2mm/s比較合適(shi)；測(cè)試(shi)后速度主要(yao)和粘性有(you)關(guān)，如(ru)果不考慮(lv)樣品粘性(xing)或者(zhe)樣品沒(méi)有(you)粘性，測(cè)試后速(su)度可以(yi)調(diào)快一點(diǎn)。目標(biāo)(biao)模式也就(jiu)是探(tan)頭壓到(dao)什么時(shí)候停(ting)止呢，建議采用(yong)距離模式(shi)，探頭測(cè)試移(yi)動(dòng)距離(li)大于樣(yang)品的高度，從而(er)保證(zheng)*穿刺樣品(pin)。

（4）餅干的硬度和(he)脆性如何(he)定義呢？

這個(gè)是典(dian)型的餅干曲(qu)線，波動(dòng)可能是(shi)由餅干(gan)的破裂或(huo)是餅干內(nèi)部(bu)有大(da)的內(nèi)含(han)物而(er)造成。因(yin)此，一般將曲線(xian)內(nèi)的zui高峰定(ding)義為餅干的(de)硬度，線性(xing)距離定義(yi)為餅干的酥(su)脆性，線性(xing)距離越短，餅(bing)干的酥脆性(xing)越好。